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超精密激光干涉测量系统

量程 :±21.2m(@光学二细分)±21.2m(@光学二细分)(波长 632.8nm) 

测量分辨力 :1.24nm ~ 0.31nm 

相对测量精度: 0.05ppm(真空下 0.002ppm) 

测量速度 :最大 5.37m/s 

光学非线性 :优于±0.2nm(空间分离方案);优于±2nm(共光路方案) 

光学热漂移 :优于 30nm/K 



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  • 详细信息
  • 产品概述

一.产品简介


       HUE 系列激光干涉仪由哈尔滨工业大学研制、哈尔滨超精密装备工程技术中心有限公 司开发,集激光器、干涉镜组、信号处理卡、环境参数传感器优势于一体,实现单轴/多轴 超精密激光干涉定位与测量,可作为独立测量仪器,或嵌入大型装备中使用,满足不同客户、 不同应用场景下的定制化测量需求。


二.技术规格


单轴技术参数被测目标平面镜/角锥棱镜/低反射率表面(24%)
里程±21.2m (@光学二细分)±21.2m (@光学二细分)(波长632.8nm)
测量分辨力1.24nm ~ 0.31nm
相对测量精度0.05ppm(真空下 0.002ppm)
测量速度最大 5.37m/s
光学非线性优于±0.2nm (空间分离方案);优于±2nm (共光路方案)
光学热漂移优于30nm/K
角度容差1~2mrad
测量轴数1 ~ 22 轴
数据通信数据接口USB / ISA / VME
数据更新率10kHz / 10MHz
工作环境温度范围18℃-25℃ (推荐值 20±1℃, 30 min 内变化W±0.1℃)
相对湿度30% - 60%















三.HUE系列超精密激光干涉测量系统示例

       单轴外差激光干涉测量系统

      可测量运动台的一维水平位移

       ① 激光器(SL 系列单频 / XL 系列空间分离双频)

       ② 合光器(BC01 无源型 / BC02 有源型)

       ③ 单轴干涉镜组(DP01-P 型,1 套)

       ④ 外差光电探测器 (PD02-F 型,2 套,含参考光路)

       ⑤ 信号处理卡(DE 系列,含机箱)

       ⑥ 被测目标:一维运动台(平面镜)

        注:图中参考光路未画出



        二轴外差激光干涉测量系统

       可测量运动台的二维水平位移

        ① 激光器(SL 系列单频 / XL 系列空间分离双频)

        ② 合光器(BC01 无源型 / BC02 有源型)

        ③ 分光镜(BS55 型)

        ④ 单轴干涉镜组(DP01-P 型,2 套)

        ⑤ 外差光电探测器 (PD02-F 型,3 套,含参考光路)

        ⑥ 信号处理卡(DE 系列,含机箱)

        ⑦ 被测目标:二维运动台(平面镜)

         注:图中参考光路未画出


         六轴外差激光干涉测量系统

         可测量运动台的六维位置姿态

         ① 激光器(SL 系列单频 / XL 系列空间分离双频)

         ② 合光器(BC01 无源型 / BC02 有 源型)

         ③ 分光镜(BS55 型)

         ④ 三轴干涉镜组(DP03-P 型,2 套)

         ⑤ 外差光电探测器 (PD02-F 型,7 套,含参考光路)

         ⑥ 信号处理卡(DE 系列,含机箱)

         ⑦ 被测目标:六维运动台(平面镜)

         注:图中参考光路与 z 向目标镜未画出






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